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光切法显微镜 9J

光切法显微镜 9J


【说明】

光切法显微镜 9J
产品介绍:
    显微镜9J是以光切测量另件加工表面的微观不平度。其能判国家标准GB 1031-68所规定▽3-▽9级表面光洁度。(表面粗糙度12.5-0.2)对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。
    光切法特点是在不破坏表面的状况下进行的。是一种间接测量方法。即要经过计算后才能确定纹痕的不平度。



■产品介绍
    显微镜9J是以光切测量另件加工表面的微观不平度。
其能判国家标准GB 1031-68所规定▽3-▽9级表面光洁度。
(表面粗糙度12.5-0.2)对于表面划痕、刻线或某些缺陷
的深度也可用来进行测量。

■产品特点:
1. 本仪器在原有的基础上进行了光学系统升级,明场成像
   更清晰,避免看不清测量读数刻线。
2. 配备粗微动同轴调焦系统,粗动松紧可调,
   微动格值:2μm,使之更加准确的找到成像面。
3. 一体化结构机身,无需另配变压电源,操作简洁、方便。
4. 非接触式测量,不会破坏样品表面层,经过计算后确定纹痕的不平度。


■技术参数:
1. 测量范围不平度平均高度值(微米):
    >0.8-1.6    >1.6-6.3    >6.3-20     >20-80
2. 表面光洁度(级别): 9     8~7        6~5        4~3
3. 所需物镜: 60X/0.55     30X/0.40      14 X/0.20      7X/0.12
4. 总放大倍数: 510X        260X         120X         60X
5. 物镜组件工作距离(mm):0.04    0.2    2.5     9.5
6. 视场(mm): 0.3        0.6            1.3         2.5

7.摄影装置放大倍数:   约6倍
8.测量不平度范围:(0.8-80)微米
9.不平宽度:用测微目镜:0.7微米-2.5毫米
  用座标工作台:(0.01-13)毫米
10.仪器重量约:23公斤
11.外形尺寸(mm): 约180*290*470毫米


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