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显微镜下量测金属显微影像晶粒尺寸的方法




来源:yiyi
时间:2013-8-5 12:15:01

显微镜下量测金属显微影像晶粒尺寸的方法

晶粒尺度之测定方式

(a)晶粒尺度的测定方式有下列三种。
(1)              比较法。
(2)              截距法。
(3)              面积法

以上3种方法,一般常用比较法,观察由非等轴结晶粒所组成之材料则用截距法。
但测定结果仍有疑义时,以面积法来决定

(b)
以显微镜的影像或相片进行测定,其倍率以75倍为标准。为得更正确值时,
则大于0.200 mm的晶粒尺度用25倍,0.070 mm以上之粒度用50倍,
晶粒尺度愈小,测定倍数愈大

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