显微镜影像测量-微小工件测量影响测量仪

截距法

在显微镜影像或照片上用已知长度之线尺完全截过晶粒，并计数之。
以其截距长度平均值(mm)表示晶粒尺度。
视需要可沿与加工方向平行及垂直3轴向测定。
截距法所测定之值，有时较面积法之测定值小

面积法

面积法是将已知面积的圆或长方形描在相片或毛玻璃上，其面积内完全包含之晶粒数，
与圆或长方形周边被截过的晶粒数之一半加总为全晶粒数。
假设晶粒为正方形，其晶粒尺度依下列公式表示

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