近场光学显微镜在纳米测量的应用简介

近场光学显微镜对于现今奈米尺度量测 上有高空间解析的能力
，是分析次波长微结构 不可或缺的工具。

因其空间分辨率受限于光纤 探针的尺寸，为近场光学显微镜中
关键部份， 探针自制能力，并且利用自制的探针与外差式近场
光学干涉仪结合已具有不错的成效。

再者，对于近场正交式的架构已有初步的模拟结果。对于辐射状
偏极态入射光在近场光学用探针模拟也观察到了超小聚焦的现象，
有助于提升近场光学显微镜之分辨率

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