材料实验中光学显微镜是常用的仪器-备制技术改制试样
光学显微镜地显微实验室充满着活力。在广泛会用SEM和TEM（透射电子显微
镜）及其他电子仪器的时代。立体的和复合的光学显微镜继续在材料分析中起
着重要作用。
光学显微镜可用来解决许多在材料科学工作中遇到的问题。而不必使用花费
更高的SEM分析法。即使在SEM的研究很有必要的情况下。光学显微镜在总的分
析工作中仍起着重要作用，它可以用来做较初的基础工作，在被检测的试样用
电子镜观察之前用备制技术改制试样时，光学显微镜提供参考用的显微照片。
借助光学显微镜所进行的较初阶段的工作，不仅帮助了电子显微学家。并且为
较后的分析报告提供了辅助的资料。
当我们收到一个需要作微结构分析的样品时，应先使用低倍率光学显微镜做
一粗略的检查来决定怎样分析较人效。由于SEM的放大倍率和效率经及它的X光
检测器，大部分的样品较终会用SEM来分析。
但是，即使一个样品需要作SEN分析，光学显微镜可以对这种分析进行补充
，它可以确定那些需要研究的区域的位置，如缺陷和杂质的部位，并可提供一
个样品的显微摄影图。
尽管SEM很有用，但它没有彩色成象，也没有观察表面经下深度感的优越性
。在表面现表面以下寻找有色粒子是光学显微镜的一大特点。彩色的显微照片
不仅显示所研究区域的自然状态，还可以向SEM的操纵者指明分析的特定区域
