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读数显微镜,取两个读数平均-工具型光学仪器




来源:yiyi
时间:2014-11-2 18:15:27

读数显微镜,取两个读数平均-工具型光学仪器

    (1)半周期法:对于周期误差,如取相隔180°方向的两
次读数的算术平均值,便可消除。例如测度盘可在相距半周
期上置两个读数显微镜,取两个读数平均,就可消除此误差。

    (2)对称法:对具有线性的系统误差,也可以取对称于
中间数的两边测量值的平均数消除此误差。例如测量仪器均
匀地受温度影响而使测量值均匀地增大或减小

即可消除系统误差的影响。
    以上所讨论的消除系统误差的方法并不可能将全部误差
都消除掉,而只能说是绝大部分的误差被消除,因此只是近似
于实际值。

    从偶然误差的特性中知道,测量误差愈大,它出现的概率
愈小,也就是说大误差出现的机会是很小的。但是,由于测量
者不小心在测量过程中偶然读错、写错、算错等等因素还是可
能存在的,这是明显歪曲测量结果,应设法发现和剔除它。

    要发现单次测量有无过失误差,一般是重新测量一次看
它是否相差太多。

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