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斜截面光学技术的应用-样品测定用光学显微镜




来源:yiyi
时间:2014-11-6 17:43:19

斜截面光学技术的应用-样品测定用光学显微镜

虽然斜截面
法不是一种光学技术,但是对斜截面法决定性的检验是采用光
学技术。而且因为正象我们将要肴到那样,这个讨论自然会使
人们去考虑某些有关的光学技术。

    在斜截面法中,正如其名称含意那样,切面以一个小角度
a倾斜地切入被检验表面,因此有效地放大粗糙度的高度,放
大系数为ctga,然后用上海光学仪器一厂光学显微镜来测定。

    被切表面在切断时必须用粘着的涂层加以保护,以防止
轮廓沾污。涂层必须坚固地粘着在表面上,必须有同样的硬度,
不能扩散进入表面,并且以后不会受任何腐蚀的影响。
仪器销售电话:010-64034191 84021761

对于钢来说,这些要求是用电镀0.5 mm厚度的镍来满足。样品是放
在平面磨床上,以1°与6°之间角度来磨削(角度可根据需要
放大倍数而定),直至镀层与基层之间的边界沿着样品前进达
到一半长度为止。

这样加工过的斜截面又经过磨盘细磨、研磨,可能较后轻度地酸
洗或氧化着色,为光学检验提供良好的对比度。

斜截面法主要优点是它的准确度。

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