铁谱分析仪-固体颗粒尺寸的测量光学显微镜
利用电子扫描显微镜和x 射线能谱仪。可以对大多数磨损颗粒的
成分作出准确的判别断，但由于这种方法操作繁琐，设备昂贵。因此，
通常采用较为廉价的光学显微镜作为磨损颗粒的识别工具。后者还具
有直观、快速和方便等优点。
固体颗粒尺寸的测量
一、测量时所用的光源用偏振光测量，将显微镜上的反射光偏振
器旋转一角度，直至谱片上未浸润过油液的干净部分呈较暗色为止，
此时谱片上其它黑暗区域上的颖粒因其消偏作用而显得明亮。
二、长与宽尺寸的测量转动显微镜载物台，使所测颗粒的长度位
于视域标线的纵向。操纵载物台使标线切于颗粒的一端边缘，记下座
标位x 读数。再纵向地操纵载物台，使同一标线切于颗粒纵向的另一
边缘。记下座标位置读数。此二次座标位置读数之差。即为被测颗粒
的长度。
同理沿横向进行类似操作。便可测量出该颗粒的宽度。
三、厚度的测量作显微镜对焦的精调旋钮上，有两只微米级的刻
度盘。可用来确定顺拉的厚度。方法是：
1 ）先把焦点聚在谱片的上表面。实际上近似地以一极小颗粒作
为参考点，对它聚焦。效果相同而更为方便，此时记下精调旋钮的读
数（位于载物台升降机构上）；
2 ）把焦点聚在待测颗粒的顶端，再记下在精调旋钮的读数。
这两次读数之差，便是待测颗粒的厚度。
