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光学显微镜检测不同陶瓷的显微结构特征和晶粒




来源:yiyi
时间:2014-4-9 22:51:50

光学显微镜检测不同陶瓷的显微结构特征和晶粒

    许多共他方法对测定陶瓷材料的相分布、形貌及特性是有用的。
相显微检查技术使深度分辨力大大增加。对抛光切片或薄切片采用偏
振光,则有助于相的鉴别。

    立体显微术、X 射线显微术、暗视场电子显微术、以及许多其他
特殊方法都是有用的,并应对每一个特殊问题考虑可行的方法。

    较适宜的方法因样品而异,而且任一普通规则都可能遭遇到许多
例外。

    对大多数研究目的来说,制备抛光切片并用光学显微术或扫描电
子显微术和X 射线衍射或显微相鉴定法检验抛光切片,构成一个良好
的基本检测程序


    陶瓷导论所依据的主要原理之一是陶瓷制品的性质不仅取决于相
的组成和结构,还取决于相的排列。

    成品的相分布或显微组织取决于初始的制造工艺、所采用的原料、
相平衡关系以及相变动力学、晶粒长大和烧结。

    能测定的显微组织的特征是

    (1 )现有的相的数目和识别,包括孔隙在内,

    (2 )每一个相的相对数量,

    (3 )每一个相的特征,例如相的大小、形状和取向

    研究显微组织的方法。研究显微组织采用过许多不同的方法,较
广泛使用的两种光学方法是:用透射光观察薄切片和用反射光观察抛
光切片。薄切片法采用光线透过0.015~0.03毫米厚的切片。

    制备切片时,从材料上切下一个薄片,将薄片的一面抛光,把这
个面粘在显微镜的载玻璃上,然后将另一面研磨并抛光,以得到所要
求的均匀厚度的切片。这种方法的优点是,能测定每一个相的光学性
质,从而鉴定出所有的相。这个方法有两个

    主要缺点:第一,样品制备困难;第二,许多细品粒陶瓷材料的
个别晶粒,其尺寸小于切片厚度,这将引起混乱,尤其对于一个不熟
练的人更是如此。总之,需要有相当的经验才能较好地利用薄切片法。

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