金相显微镜是用来检测金属试样或矿物等样品

    对体视显微镜下方目标照明的光线通常由附在与物镜底部同一水平
上的环形光源提供。还叮采用其他间接照明形式。如光纤光源。

体视显
微镜一般未配备透射光系统（从样品底部照明）或配备入射（反射）光
系统（光线经物镜向下反射到样品上，再往回经显微镜向上反射）。

    用于电子学领域的另一类显微镜是入射光显微镜。这类显微镜称为
金相显微镜已有许多年，因为它们用来考察标准亮场透射光显微镜不能
观察的金属样品或不透明样品。

当检测入员需要低放大倍数体视显微镜
不能提供的较高放大倍数、并且愿意接受较小景深和较短工作距离时，
便使用这类显微镜。用这类显微镜可以获得高达700x的放大倍数。

    这类显微镜的用途通常已高度专业化。在电子故障分析的情况下，
通常被用在电子探测台上。

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