自动双折射测量仪器配套偏光显微镜制造厂商

   自动双折射测量系统已经使用了相当长时间
(光盘.LCD工业)，其中大部分是扫描系统。

逐点对待测样品机械式扫描.并形成待测系统的偏振图。

较新设计的测从系统不再进行机械扫描，并将这些系统
编入成像双折射测量系统的目录

    按照补偿技术的原理工作。线偏振光通过待测样品，
双折射使其成为椭圆偏振，利用四分之一波片再次使之
成为线偏振光，并利用旋转检偏器进行分析。

如果用一个矩阵相机作为探测器，样品图像就可以形成
在检偏器的各种位置，从而得到(样片)一个完整的横向
可分辨偏振图

    可以清楚地看到，透镜浇道口处双折射增大，并且，
中心在浇道口的双折射沿径向逐渐减少。这类图像很容
易识别和理解，是模压工艺中形成的。

制造的标准设备可以分析100mm直径的表面，横向分辨率
高达0.14mm，双折射测量的重复性是士0.lnm，测量时间
少于1min。利用其他自动测量方法还可以测量平面和稍
有弯曲的样品。强弯曲透镜需要另外方法，

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