显微镜金相显微镜 上海光学仪器厂- 研发专家

SiteMap:XML Html urllist 招聘 客服 地图 咨询热线:021-55228110
显微镜|金相显微镜|测量投影仪等光学仪器专业提供商-上海光学仪器厂
网站首页
企业介绍
新闻中心
企业产品
客户留言
相关下载
联系我们
付款方式

相衬显微镜技术可以应用于金相分析中-显微图像




来源:yiyi
时间:2014-8-16 7:49:03

相衬显微镜技术可以应用于金相分析中-显微图像

    在外延生长期间产生的堆垛层错有一个可预料的几何形状它们在表
面上的外形尺寸与厚度直接成正比,并可用来计算在层错形成后才生长
的外延层厚度。在淀积时偶而也会出现一些困难,

    并产生附加的堆垛层错,这些层错不会与一开始就成核的层错一样
大,因此在选择一个特定的堆垛层错来进行测量前,必须在整个面积上
选取较大层错。

    在大部分生长条件下,不需作另外的表面处理,用一台相衬或干涉
相衬显微镜就能看到堆垛层错。在这种情况下,此方法是非破坏性的。
用浅腐蚀来确定这些层错,

    果腐蚀剂除去很厚的一层膜,那么根据层错尺寸能确定的厚度必须
加上这个量。为了估计腐蚀去的量,可在单独的实验中测量腐蚀速率,
再与样品腐蚀时间结合起来。使用堆垛层错的主要缺点是高质量淀积层
很少有层错,因此,它们实际上是不可能被发现的。用此法计算得到的
数值几乎与其它所有方法都不相同,它是测量从表面到实际的外延与衬
底界面间的距离,而不是测量从表面到其它由衬底的反扩散所决定区域
间的距离。因此,在这种方法与其它方法之间可能存在着如何互相连系
的间题。

(本文由上海光学仪器厂编辑整理提供, 未经允许禁止复制http://www.sgaaa.com)

  
合作站点:http://www.xianweijing.org/    
万能工具显微镜 丨 表面粗糙度仪 丨体视显微镜 丨金相显微镜 丨
上海光学仪器厂_http://www.sgaaa.com @2021  上海永亨光学仪器 SiteMap
工信部备案号:京ICP备11022359号-4-丨- 北京市东城分局备案编号:11010102000203


推荐使用800*600以上分辨率浏览光学仪器产品以及参数
上海永亨光学仪器制造有限公司
上海光学仪器一厂_上海光学仪器厂
版权所有 未经允许禁止任何人复制,转载本站显微镜以及光学显微镜产品以及参数信息