金属及合金的截面微观晶粒直径计量图像显微镜
所谓组织分析，不只是利用显微镜观察金属及合金的微
观组织，而定量地表示组织中的组成相的量、晶粒直径、化
学成分等方法也都称为组织分析。组织分析有各种方法，但
这里只选择了较基木的利用光学显微镜的定量的组织观察以
及近儿年发展的著名的X线微区分析。
为了通过显微镜观察定量测定组成金属组织的晶粒的大
小以及第二相的量，练习自古已有的点算法与直线法，分析测
定上的间题及误差。
金属组织本来是向三维扩展的组织，但在光学显微镜下
见到的不过是它的一个断面。因此，在组织分析时，必须考
虑正确地进行由二维的断面组织向三维组织的变换。定量表
示组织的三维参数，一般不能根据光学显微组织直接估算，而
要根据几何学关系联合各种测定值进行估算。
由于这种设备的分析范围如上所述，因而可以精确求出显微
组织与构成组织的组成元素间的关系。这种设备是综合电子
显微镜与荧光X线分析设备而发展起来的， 自1951年R .卡
斯特(法)研制成功后，作为微区的成分分析法得到了迅速
地发展。现在，可以分析Be以上的所有元素，并且在很多
方面都已加以采用。在金属学范围内，可用以进行合金相的
研究、不同金属间的扩散、合金中的偏析、析出物或杂质的
鉴定、在表面氧化物或镀层相中的合金元素的分布及浓度的
测定等。
