测粒度矿物的大颗粒与小颗粒特征计量图像显微镜

    一般程序测量与标绘构造岩薄片在低倍镜下看可以是不
均匀的。因此，象纹层、褶皱和斑状变晶这样的显微域，应
当在显微照片或素描上圈定，并把每个域的优选方位资料单
独记录下来，对于的特殊意义的分析——例如，实验变形材
料的分析，甚至应当对每个被测颗粒进行编号并记在照片上。

    如果岩石是不等粒的，通常在一个特定域中只测量其中
一部分颗粒。测量时常用的取样方法是，在薄片上布一系列
平行的横测线。这些测线要与紧贴滑动尺水平臂的薄片底边
保持一致的方位。每条测线的位置要加以记录，这分两方面，
其一是记下滑动尺上的读数；其二是把测线标在薄片的显微
照片上。这样来记录在后来如果须要作补充测量时，可以再
布补充的中间测线，而不用担心会与先前的测量资料重复。

    在粒度或测矿物的任一明显特征出现显著变化的情况下，
应当按不同的对应类型——大颗粒与小颗粒，雾状颗粒与清
洁颗粒等等——分开记录方位资料，这并不须要附加的工作
量，如果以后表明对应类型的方位资料在型式上一致，把分
开的记录和标绘合起来就是了。
　　　　　　　　　　　　　

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