偏光显微镜用途较大,特别适于测微小透明矿物折射率
包体研究中的显微镜
偏光显微镜
这是包体研究中必不可少的基本设备之一。在研究包体形
成机理时和利用包体进行测温、测压、测成分时，以及利用
包体普查勘探矿床和盲矿体时均需用它，一般可用地质人员
常用的透射偏光显微镜，但较好使用既适于透射光又适于反
射光的两用偏光显微镜。我国光学工业正生产各种不同精密
光学仪器，透射反射两用偏光显微镜也已正式生产，为我们
的研究工作提供了较良好条件。下面介绍几种国内外常用透
射反射两用偏光显微镜用某些其它显微镜。
干涉显微镜和相差显微镜
近年相差和干涉显微术有进展，尤其干涉显微镜很发达。
这两类显微镜原理不同，但用于同样目的。两者均能提高
研究物体与其背景之间的衬度，且设备不复杂，操作简便。
已广泛应用各科研究领域。地质上便于研究细小透明无色或
浅色矿物，尤其适于测细小透明矿物折射率，也便于研究包
体、晶体缺陷及固溶体分离。虽有专门成套产品，但一般偏
光显微镜只要增加相应特制物镜和聚光镜等少许专用附件，
即可变为相应的相差显微镜和干涉显微镜。
这些装置用途较大，但特别适于测微小透明矿物折射率，
在偏光中测程差的精度为0.01，当薄片厚0.01-0.03mm时，
测定折射率和精度可达小数后第4位，且操作较迅速。又如
，地开石细小晶体在香柏木油和丁香混合液中，当明亮域法
时几乎见不到；但地相差、诺马斯基微分干涉送菜主贾明一
列别杰夫干涉装置下则非常清楚，这些特点将有助于包体研
究。
