晶粒大小的测量就是要测出两种晶粒的晶粒度级别

  双重晶粒组织

  金属中具有双重晶粒组织（混晶组织）的情况也不少，双重
晶粒组织具有晶粒面积、直径及线截距的双峰频率分布，双重
晶粒组织有两种情况，一种表现为界线分明的细晶区团和粗晶
区团，即在大晶粒基体中包含小晶粒或与之相反，另一种则表
现为少量超出正常晶粒大小分布范围的晶粒散布于正常晶粒基
体上。

  双重晶粒组织的晶粒大小的测量就是要测出两种晶粒的晶粒
度级别，并确定它们的比率，前一种情况比较简单，只要用较
低的倍率在随机选择的若干视场中对细晶区和粗晶区进行点计
数来确定其体积积分率，然后再在适当的较高倍率下分别测量
其晶粒度级别，而后一种情况就比较困难，较好的办法就是测
出整个晶粒线截距的频率分布，然后再把数据分成两个组来分
别计算，提出用几组间隔为5mm的平行线栅格在0°、45°、90
°、135°4个方向上测量线截距，然后按线截距大小以每1mm
间隔（在测量放大倍数下）把数据分组，画出频数分布图后就
可以划分出细晶区和粗晶区，并分别进行计算。

(本文由上海光学仪器厂编辑整理提供, 未经允许禁止复制http://www.sgaaa.com)