金相表面特征检测光学显微镜和电镜两种技术互补

表面检查

  因为电子被致密材料吸收，对金属的早期研究就限于复
型技术研究金属表面，这些工作涉及用适当的代密度材料
制作一个表面的复型，因此这种复型方法的使用受到限制
，不过复型技术仍广泛地用于定性和定量地评估许多表面
特征。

 在实际场合下，选用电子显微镜并不总比选用光学显微镜
有益，所以，重要的是要选择适于一种具体目的的较好技
术，两种技术互为补充，每种方法都能获得有用的数据。

  结构的检查

  用透射电子显微镜检查金属结构，重要的是要制备能透
过电子事泊金属薄片，对于镍来说，就必须要制备1000-
2000A厚的薄片。

  已进行的实验工作表明，假定在制备薄片时，镀层的开
始层溶解掉，那么一个特定的镀层的结构与基底的性质无
关，这就消除了检查一种结构可能受基底影响的非代表试
样的可能性，因为高倍放大是可能的。

  但是即使在较高放大倍数下，光亮镍的结构也不能分辨
，但在显微镜内也能进行电子衍射，以致在亮镍的情况下
，也能获得某些数据。

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