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显微结构特征晶粒尺寸精确定量的测量显微镜




来源:yiyi
时间:2015-6-7 0:09:28

显微结构特征晶粒尺寸精确定量的测量显微镜

我们现有认识中还有许多仍然不很肯定的东西,而且需要进
一步实验和更加细致的理论,对于不同晶体锗构之间共格界
面的迁移行为,这种情况更甚.目前,证据的重要性,尤其

是由质点粗化实验获得证据的重要性似乎使作者想到,对界面控制
而言,这些界面足够的迁移性并不是都么重要.这种看法是
一种不成熟的看法.在充分了解显微结构稳定性之前,显然
还有很多要了解的未知领域.讨论显微结构变化时的一个中心论题
是考虑测定各种显微结构特征所用的方法.

这些显微结构特征包括晶粒尺寸、

第二相析出物的体积分数及质点间的距离等.当结构获得比较稳定
的形式时这些显微特征将如何变化.显然,有关这种显微结构变化
的所有试验研究都取决于精确可靠的测量

强调要采用优良定量显微术的一些研究范例。

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