待测样品氧化膜截面测定厚度专业图像显微镜

显微镜法是测定的参考方法，它是用刻度光学系统来观
察垂直于待测表面的显微磨片。为了得到合适的截面，试片

要塑铸在低熔点合金或聚苯乙烯或丙烯酸树脂糊里。测量应
当在均匀分布的几个部位上进行，并应当取读数的算术平均
值作为测定的结果。精度是±0．5微米。

    测定厚度的分束显微镜法是发射出一束光到阳极氧化的
表面上。一部分光束从阳极氧化膜的表面反射回来，而另一

部分则穿透膜层，从基体金属表面反射回来。在显微镜的目
镜里，观察到分离的两个明显图象的距离与阳极氧化膜的厚
度成正比，校准显微镜能直接给出读数。这种方法仅能用于
平表面产生的透明无色膜上。

测量精度为±2微米一干涉法是观察在特殊显微镜目镜里形成
的干扰线。

本方法仅能用于平表面上得到的厚度为l～9微米的透明无色
膜。精度为±1微米

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