X射线微区分析定量技术的基本原理-测量显微镜
如果设定了以上的条件，那么有许多衍射图像也可以用手算
进行解析。如果采用简单的电子计算机的话，解析的范围就会更加
扩大。总之，不论怎样解析，对这类物质进行某些定性，并且知道
它们的晶系及晶格常数．都要有一定的条件，只用单晶的衍射花样
来定性完全未知的物质是不可能的。
X射线分析法
电子显微镜是把电子束照射到试样上，从试样中能够放出它固
有的X射线。如果把电子束变细，使它仅仅照在分析目标的颗粒(或
区域)上，然后做X射线分析．就可能进行颗粒组成元素i内分析。
这样就可以从完全未知的物质中得到一些信息。再把这些信息与上
述的电子衍射法并用，便可以在鉴定未知物质方面开辟瓶的途径。
较近几年，X射线分析仪采用了美国所发明的能量分散型X射线
检测仪。这种检测仪与过去的波长分散型相比，其受光面积大(不
使用分光晶体)。因为检测效率高，所以电子束对试样的照射量可
以很小。这与照射面积可以变小的理论有关。
但是，这里所检测出的铁和锰也有可能是包含在针状晶体之内的。
这就是这种分析方法的缺点。即使电子束确实照射在针状晶体L，
散射电子在碰到其邻近的颗粒L时．也会从那里放射出X射线。如果
不常常想到这一点。也会产生意想不到的误差。
这就是X射线微区分析定量法的基本原理。对测定值再进行吸收修
正，荧光激发修正等计算，较后便可以决定其含量。在这种分析法
中，如果试样的尺寸极小，可忽略一些修正项。
纯物质的X射线强度与波长分散型检测仪的分光晶体结构有关
。因为检测的波长不同，检测仪的几何位置也不同，咽此强度与原
子序数并不具有特殊的关系。
