光学分析显微大小的晶体鉴定,粒度自动分析显微镜
由于化学组成相同，各种SiC 变体自然不能用化学方法区分开来，
其他就去的定量分析，特别是立方变体的定量分析，又遇到如下的困难
：1 、光学分析只是对纯晶体才能作出可靠的鉴定，可能以亚显微大小
存在的立方- 六方合生体则不被发现，而且具有一维无序的立方晶体在
光学上也是一轴的，因此分类时就会发生错误。
2 、SiC 晶体的几何关系要求所有的变体都具有几乎相同的点阵能，
因此变体行为上的区别只在表面起着决定性作用的过程中才是重要的，
而与气相的反应首先就归属于这种过程，在纯的变体中，立方晶体的特
点是：以其4+4 个等值的，一般以稳定著称的面可以构成所闭合物质的
两个四面体，而在六方和菱形变中则只存在两个稳定性相同的底面，它
们不能把晶粒完全封闭住，很明显，这样的对比只有在粒度几纯度都相
同的条件下才能进行，这种研究工作过去没的进行过，因为直到目前为
止，所有的纯变体都尚末制备成功。
3 、不但在单晶体照片中，而且也在角度分辨率高的粉末照片中，
立方SiC 的全部X 射线反射都与显然合乎规律地与之合生在一起六方变
体的反射重迭起来，因为恋人析轴比=4.908，而不是理论值的4.899 ，
但是这些不同样品的干涉线条一般是铡好可以彼此明显地区分开来，而
有时又只有一条弥散带可以辨认，这点干涉线条可以因轻微的点阵应力
而显得模糊，关于这种合生是原来已有的，还是以后转变而成的问题，
首先就不能解决。
4 、在等吸收的粉末物质混合物的X 射线定量分析中，待研究物质
的非重迭线德棉股份强度与该物质的浓度成正比，比例因子必须通过校
正试验加以确定，此需要制备纯净的物质，这在SiC 变体来说，是有如
下困难的。
立方变体固然可以制成纯净状态，但是它没有非重迭的线条。
六方和菱形变体虽然有非重迭线条，可是，它们目前还不能够确的
把握地制成纯净状态。
针对而进一步发展起来的X 射线定量分析理论被应用于SiC 和SiC
混合物了，针对而发展的理论要胜过针对的理论，而且也象后者那样付
诸实践了，在和这两种情况中，都必须从结构因数计算真实的强度，在
这当中，人们看到，对SiC 系统来说，在法中由于所讨论的特殊情况对
称性缘故，只要对Si和C 的原子振幅作出少许的特定假设，就可以那样
地解决问题了，但是为了要达到更大的准确度起见，较好方法实验测出
真实的强度，而不采用计算的办法，在这两种方法中只有良好的SiC 晶
体才能测定，而对错排的变化，则不适应，样品如含有一部分可能存在
的，数量末知的错排SiC ，则SiC 变体的定量测定结构无疑要产生误差。
此处介绍的测定立方SiC 含量的方法曾应用于只发生SiC 线条，因
而首先含有纯SiC 的这样一种我的上，但是，既然立方SiC 的全部线条
与SiC 的线条重迭，因此样品中也可能含有若干数量的SiC.
