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覆层制品厚度断面测量多功能工具光学显微镜




来源:yiyi
时间:2016-5-7 1:52:08

覆层制品厚度断面测量多功能工具光学显微镜

覆层厚度的测量,可根据测量对象结合各种方法的特点和所
适用的范围,来选择适宜的方法和仪器.
    测量覆层厚度,较重要的是指测量覆层工作面的覆层厚度,
如轴套内表面的覆层厚度、某些形状复杂或曲率半径很小的覆层
制:铝的覆层厚度。在合适方法选定的基础上,对于仪器的选用,
还得考虑有合适的测头,以满足具体测量的需要.
    有些覆层制品其覆层厚度是非常均匀的,如镀锡薄钢板,一
般可采用称重法进行平均值测量。但更多的覆层制品其覆层厚度
往往不是很均匀的,因此必须测量出较小覆层厚度,以达到所规
定的技术要求.在这种情况下,测头要小到能逐点测量,从而可
测出整个覆层制品的覆层厚度分布情况。这对于大多数无损测量
方法是易于实现的。

在覆层制品生产单位和用户之间,往往要进行抽样和选点测
量,以保证覆层制品技术要求的较小覆层厚度,通常将这种测量
。称为仲裁测量。这种测量一般具有直观、可靠、准确度高等特
点,过去都把断面显微镜测量作为仲裁测量。但是,显微镜测摄
厚度大约在8微米以内,其准确度较低,难以达到技术要求,并需
要有专门训练的技术人员。随着电子技术的进步,阳极溶孵库仑
测厚仪的应用日益普遍,用这种方法可测量10微米以下的覆层厚
度,测量重现性较好,准确度较高,误差可小于±5%,因而阳
极溶解库仑法覆层厚度测量可作为几个微米范围内覆层厚度的仲
裁测量。
    轮廓仪在测量为l微米以下的覆层厚度时,具有很高的准确
度,但高级的轮廓仪价格较为昂贵,在有条件的地方,可以采用
.轮廓仪作为特薄覆层厚度的仲裁测量。

用绝对误差表示测量准确度;但若被测覆层厚度相差很大,则
更能反映测量准确度。通常,用覆层测厚仪测量薄覆层厚度时,
一般绝对误差较小,而相对误差很大,但用覆层测厚仪测量厚覆
层厚度时,绝对误差较大,而相列‘误差较小。在各种覆层厚度测
量方法标准中规定了覆层厚度测量的相对误差和绝对误差,即薄
覆层不超过规定的绝对误差,而厚覆层不超过规定的相对误差。
有的仪器规定其误差为相对误差加绝对误差,仪器在测量薄覆层
时不应超过规定的绝对误差。

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