光谱分辨白光干涉测量
    一个波长范围很宽的光谱干涉条纹也可以利用分光计通过离散
白光条纹而观察到。这种光谱分辨条纹的观察方法称为光谱分辨白
光干涉测量(SRWLI)，也是前面描述过的波长扫描的一种替代方法
。
   干涉仪将分光计与CCD相机结合起来使用。条纹所在的平面位置
通过分光计的入射狭缝成像到CCD相机上。分光计沿CCD相机的颜色
轴将测量对象的单根白光条纹分离成光谱条纹。不同类型的分光计
都可以使用，例如棱镜或者光栅光谱仪。
    科学家们一百年前观察到的条纹基本上是“信道频谱”。在这
方面光谱分辨干涉测量并不算是一种新的技术，但是，计算机、固
体器件和分光计的发展使得该信道频谱在很多方面得以应用。光谱
分辨白光条纹有许多不同的应用，例如测量不同的折射率、折射率
分布、波分复用、图像传输、距离和位移的测量，较近又在轮廓测
量上得到应用。

   图像构成
    在光谱分辨白光干涉仪中，颜色轴沿着CCD相机中垂直于分光
计狭缝的轴向℃CD相机的行(或列)像素记录下光谱干涉信号，根据
该信号可以计算出被测对象上此点的光谱相位或条纹频率，从而推
导出被测对象与相对应参考点之间的距离信息

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