宏观光学显微镜检测显微镜-表面分析仪器
宏观分析
一旦已经选择并从认为与失效相关的部位截取试样后，就应该
对试样进行一个全面的宏观检查。这包括目视检查和较大放大倍数
为100倍的光学显微镜检查。双目视显微镜具有良好景深的场分辨
率，对这种宏观检查很重要。
另外，用照相的方式来记录试样。为了进行更深入的分析，在
开始截取试样前，必须对试样形貌有一个永久性的记录。在进行这
种检查时，需要探寻的事项，应包括如下内容：
1)断口表面形貌，如发暗、发亮、镜面状、辉纹、气泡等。
2)氧化或腐蚀产物是否存在。
3)宏观屈服和剪切唇。
4)二次裂纹。
5)焊缝表面特征，如咬边或电弧引弧处。
微观分析试样的选择
做完宏观检查和分析后，有时会需要准备试样在更高放大倍数
下做进一步的检查。这些微观检查试样包括以下种类：
1)断口表面分析——SEM或其他表面分析，如俄歇光谱。
2)金相分析——光学或电子显微镜。
3)微观评价——扫描或电子探针微观分析(扣ectron probe mi
croanalysis，EP·MA)。
另外，要使用简单的标识系统对要切割的试样进行标识。使用
刻痕标识或图片文件来保存这些标识，保证试样可以被识别并具有
可追溯性。这样的标识方案对于事后向其他人员解释试样的位置、
选择试样部位时所采取的策略，以及把结论放入报告中都很有用。
