光学显微镜和电镜观察花粉粒结构和壁层厚度
在观察过程中遇到的问题及假象
使用扫描电镜，通常难以区分小范围的形态特征和非有机质及粘附在
有机结构上的物体。潜在的无机物的假象可能包括残留在揭片上的矿物质
，以及酸蚀刻时沉积的粉末状方解石。使用透射电镜，在高倍镜下对细胞
壁小碎片的确认和定位是一个难题。标准蚀刻或深度蚀刻将会导致困难进
一步加大，主要是由于细胞壁疏松并很容易破碎，或起泡而毁坏。此外，
在揭片中，矿物质会弄钝刀口，这样有碍超薄切片。
详细的高分辨率的观察对标准揭片技术提出了许多问题。实施的实验
方案进入了一种两难的境地。通常，我们想尽可能从有机细胞壁上除去矿
物质，但是用酸进一步处理又会毁坏细胞壁。正在消失的揭片技术提供了
：(”一种对细胞壁损害最小的蚀刻标本的方法；(2)用一种溶剂支持蚀刻
的细胞壁，去掉所有的醋酸膜，并一起去掉牢固的矿物质和粉末状沉淀等
；(3)用一种方法固定标本作光学显微镜和扫描电镜观察，和／或进一步包
埋，放到特制的支架上，作透射电镜观察。
斜面可能会出现对花粉粒结构和壁层厚度的不准确结果，特别是压型
花粉粒，故切片的准确定位特别重要。有一个恰当的例子正说明了这一点
。内网是具真气囊花粉粒的气囊内壁延伸一小段距离而形成的。虽然原气
囊花粉粒表面可能具有与真气囊型花粉相似性特征，但是这些气囊含有从
气囊内壁一直延伸到气囊本体外表面的细线。在一个穿过内网的斜切片上
，有可能将真气囊花粉粒误认为原气囊型的花粉粒(Osborn&Taylor，1993)
。上述两种颗粒的识别，有利于解释花粉壁的形成，甚至气囊的演化，同
时是系统发育重建中一个潜在的重要特征。
